New Imaging Technologies用于半导体检测的NIT成像解决方案

发布时间：2022-03-11 17:09:27 浏览：1970

在过去的数年里，SWIR波段被公认是半导体器件测试的最好波长范围之一。不论是晶圆或太阳能发电板上的裂痕和缺陷，或是集成电路的故障分析，InGaAs波长（900m-1700nm）成像设备主要用于透视硅内部。

除此之外，NITSWIR成像设备在便于集成到半导体器件生产线时，提供了具有吸引力的性能/价格比。

LiSaSWIR–测试电子元器件、硅片和太阳能发电板的终极设备。

LisaSWIR是为半导体器件测试而研发的SWIR波长穿透硅的能力。可轻松检验硅晶片或单个管芯。

LisaSWIR可以检验生产制造和现场的太阳能发电板，即使在低对比度下，也能提供极为准确的小缺陷导致的光发光图像。

由于其7.5μm小像素尺寸，LisaSWIR以高吞吐量获得材料缺陷的极为清晰和清晰的图像。

为何选择NIT？

短波红外线波段

小间隔

高性价比的解决方案

New Imaging Technologies是法国知名的SWIR传感器和相机产品公司，New Imaging Technologies产品广泛应用于机器视觉、仪器仪表、航空航天、医疗等领域。深圳市立维创展科技有限公司，独有渠道优势提供New Imaging Technologies产品，欢迎咨询。

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